半導體 (Semiconductor)
全新的應材 Mirra Durum™ 擴大了專門處理較硬基板 (如碳化矽 (SiC)) 的 Mirra CMP 系列。該產品是全自動化並已通過生產驗證的乾進乾出 (Dry-in/Dry-out) 系統,具備整合式清潔和乾燥、去除材料測量及晶圓 ID 讀取,以在大量生產製造中得到卓越品質的表面。專門的硬體經過最佳化,可承受更具侵蝕性的拋光液和化學物質。受製程配方控制的「晶圓翻轉」功能,可提供自動的 Si矽面與 C碳面拋光。此系統可輕鬆從 150mm 轉換成 200mm 晶圓,不會損失任何產能。
應材所有 Mirra 系統採用端點監控,提供內嵌量測和先進製程控制,可確保極佳的晶圓內和晶圓間製程穩定性和可重複性,非常適合所有平坦化應用。如應用材料公司的 Titan Profiler (150mm) 與 Titan Contour™ (200mm) 研磨產品和多轉盤配置等進一步的選配,透過調整跨晶圓表面和距晶圓邊緣 3mm 內的去除率,可滿足關鍵均勻性指標,並且可以是既有機台升級的選配。