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Productsort descending 技术 应用 平台
Aera4™ 掩膜检测 光掩膜, 测量与检测 图形化 Aera™
Applied® Sigmameltec® CTS Mask Coat Series 光掩膜 图形化
Applied® Sigmameltec® MRC Mask Clean Series 光掩膜 图形化
Applied® Sigmameltec® SFB Mask Bake Series 光掩膜 图形化
Applied® Sigmameltec® SFD Mask Develop Series 光掩膜 图形化
Centris® AdvantEdge™ Mesa™ Etch 刻蚀 互连线, 图形化, 存储, 晶体管 Centris™
Centris® Sym3™ Etch 刻蚀 互连线, 图形化 Centris™
Centura® AdvantEdge™ Mesa™ 刻蚀 刻蚀 互连线, 图形化, 存储, 晶体管 Centura®
Centura® Tetra™ EUV 先进光掩模刻蚀系统 光掩膜, 刻蚀 图形化 Centura®
Centura® Tetra™ Z 光掩膜刻蚀系统 光掩膜, 刻蚀 图形化 Centura®
Endura® Cirrus™ HTX PVD PVD(物理气相沉积) 互连线, 图形化 Endura®
Producer® APF™ PECVD CVD(化学气相沉积) 图形化 Producer®
Producer® DARC® PECVD CVD(化学气相沉积) 图形化 Producer®
Producer® Selectra™ Etch 刻蚀 图形化 Producer®
PROVision™ eBeam Inspection 测量与检测 图形化
SEMVision™ G7 缺陷分析系统 测量与检测 图形化
VeritySEM® 5i 测量 测量与检测 互连线, 图形化 VeritySEM™