検査・計測
テクニカルシンポジウム
December 15, 2016
プロセス制御に向けた最新検査・計測技術の探究
アプライド マテリアルズは、シャングリ・ラ ホテル東京において「Applied Materials 検査・計測Technical Symposium」を開催いたします。
本シンポジウムでは、日本の半導体業界に向けた検査・計測ソリューションの戦略と概要をご説明いたします。それに引き続き、アプライド マテリアルズの各製品テクノロジストより3DおよびHARアプリケーション向け計測技術の進歩、最新光学欠陥検査、自動欠陥分類解析による欠陥レビュー技術の講演を行います。さらに、株式会社東芝より赤堀 浩史様を特別ゲストにお招きしてメモリーの製造革新におけるビッグデータ活用についてご講演いただきます。
何卒ご来臨賜りますよう、ご案内申し上げます。 | 
