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2016 Metrology & Inspection Japan Techincal Symposium | Tokyo, Japan (Dec.15)(日本語)

Applied Materials | Event Invitation
 
検査・計測
テクニカルシンポジウム

December 15, 2016

プロセス制御に向けた最新検査・計測技術の探究 

アプライド マテリアルズは、シャングリ・ラ ホテル東京において「Applied Materials 検査・計測Technical Symposium」を開催いたします。

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本シンポジウムでは、日本の半導体業界に向けた検査・計測ソリューションの戦略と概要をご説明いたします。それに引き続き、アプライド マテリアルズの各製品テクノロジストより3DおよびHARアプリケーション向け計測技術の進歩、最新光学欠陥検査、自動欠陥分類解析による欠陥レビュー技術の講演を行います。さらに、株式会社東芝より赤堀 浩史様を特別ゲストにお招きしてメモリーの製造革新におけるビッグデータ活用についてご講演いただきます。

何卒ご来臨賜りますよう、ご案内申し上げます。

 

 
MIJTS
 
プログラム概要
 
東京都千代田区丸の内1-8-3
丸の内トラストタワー本館
シャングリ・ラ ホテル東京
27階 シャングリ・ラ ボールルーム
2016年12月15日
12:30 – 13:00 PM受付
13:00 – 17:00 PM検査・計測テクニカル シンポジウム
17:00 – 19:00 PMレセプション
(ポスターセッション含む)

 
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お問い合わせは弊社営業担当者またはIsabelle_Hwang@amat.comまでお願いいたします。